【麥克網絡講堂邀約】許博給您講顆粒表征樣品準備與測量數據統計的一般知識

時間:2019-12-17    瀏覽:200次

 

麥克儀器網絡講堂

顆粒表征樣品準備與測量數據統計的一般知識

2020年1月10日10:00-11:00

 

課程描述:

在顆粒材料的研發、制備、生產、應用中,材料的物理特性表征是必不可少的。各類顆粒表征技術的第一步是樣品的準備,包括取樣、樣品分割、與樣品分散。如果樣品準備不正確,則可能用了最先進的儀器與分析手段,得到了正確的測量數據,可是卻得到錯誤的表征結果。得到測量結果后,如何進行數據的統計表述,也是經常遇到的實際問題。此講座將重點討論這兩方面的一些基本知識。

 

培訓方式:線上平臺

時間:2020年1月10日 10:00-11:00am

網址:https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_10105.html

咨詢電話:021-51085884-807

 

講師簡介:

許人良博士,現任美國麥克儀器公司資深首席科學家,從事顆粒表征和檢測技術的應用與研究40多年,是該領域的國際資深著名專家。

許人良博士是中國國家標準化管理委員會三個專業委員會(SAC/TC168,SAC/TC168/SC1,SAC/TC584)的委員,中國顆粒學會高級理事,國際標準化組織(ISO)與美國材料與試驗協會(ASTM)的資深委員,美國化學學會(ACS)會員與美國物理學會(APS)會員。

許人良博士已發表基礎理論研究和應用領域的科技論文近百篇,援引4400多次,獲得3項美國專利,著有顆粒表征中的權威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》,執筆或參與制定了多項國際標準、中國國家標準與美國國家標準。